1 引言

　　光缆线路和宽带接入工程中，通常会涉及光缆单盘检测与光缆线路的测试工作，光缆线路测试包括：中继段测试、用户光缆测试等。这些测试条目，有的只需采用测试仪表的1个波长进行测试，即单窗口测试，有的则需要采用2个波长分别进行测试，即双窗口测试。

　　2 光缆单盘检验

　　光缆单盘检验是在施工前对光缆器材的部分传输指标进行检验，通常检验缆内光纤的长度、光纤的损耗并观察光纤的后向散射曲线是否有异常。如果光缆在施工前不进行单盘检验，敷设安装好后若发现传输指标异常，很难界定是到货的光缆质量问题还是因不规范施工导致的。所以，光缆单盘检验的主要目的，是在工程中光缆线路传输指标发现异常时界定责任方。

　　工程中所用光缆中的光纤，在出厂前均经过多次传输指标测试，一般不会出现在其中一个窗口的衰减正常，而另一窗口衰减异常的情况。所以，单盘检验只需采用单窗口测试即可，测试波长尽量采用光缆线路拟采用的工作波长或1550nm波长。

　　光缆的单盘检验一般使用OTDR，OTDR连接的尾纤通过V型槽光纤对准器（如图1所示）与光缆的纤芯连接。

　　图1 V型槽光纤对准器

　　3 光缆线路测试

　　光缆线路测试是对完工后的光缆线路或ODN链路（以下统称为光缆线路）衰减进行测试，中继段光缆还需进行偏振模色散测试。在工程设计中，光缆线路的衰减是根据缆中光纤、接头（含成端）、无源器件等衰减的最坏值计算的，光缆线路的衰减实测值往往要优于设计值较多（约0.04dB/km）。所以，工程验收时，不能仅根据光缆线路单一窗口实测的衰减值是否满足设计要求，来判断光缆线路传输指标的好坏。

　　尽管1310nm窗口下G.652光纤的衰减系数要高于1550nm约0.14dB/km，但由于光纤的宏弯损耗对长波长更敏感，如图2所示，当前光缆线路中普通存在1550nm窗口的线路衰减超1310nm的情况，这主要是由于在光缆接头及成端处，光纤的弯曲半径不符合要求导致的，见《光纤弯曲半径不足对ODN链路衰耗的影响》一文。因此，在光缆线路测试时，有必要进行双窗口测试对比，以检验宏弯损耗对整个线路的影响。

　　图2 G.652光纤在不同波长的宏弯损耗

　　4 测试窗口的建议

　　在信息通信建设工程预算定额中，与光缆和光缆线路测试有关的条目有4类，分别是：光缆单盘检验、中继段测试、用户光缆测试和ODN链路测试。

　　（1）光缆的单盘检验只需用OTDR在1550nm波长或工作波长进行单窗口测试；

　　（2）中继段测试需分别测试1310nm/1550nm波长（G.652D光纤）或1550nm/1625nm波长（G.654E光纤）的衰减，并对不同波长处的测试结果进行比较；

　　（3）用户光缆测试应使用1550nm波长，并按不低于10%的比例对1310nm波长的衰减进行对比测试；

　　（4）ODN链路的上、下行应分别采用系统相应的波长（或上行1310nm、下行1550nm波长）进行测试；

　　（5）编制预算时，中继段双窗口测试的人工及仪表定额应乘以1.8系数，但用户光缆测试和ODN链路全程测试，人工及仪表定额不需乘以系数。